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          SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀介紹>>>

             

          SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀升級
          儀器介紹
              SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的試驗方法》(等效采用IEC 60250)設計和制造的,并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測試。
          技術參數

           SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀作為最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內最高的160MHz。 SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀采用了多項領先技術:

          1. 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
          2. 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
          3. 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。
          4. 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
          5. 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
          6. DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩定。
          7. 計算機自動修正技術和測試回路最優化 —使測試回路 殘余電感減至最低,徹底根除 Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。

            SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀的創新設計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了完美的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。

            主要技術特性
          Q 值測量范圍 2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔
          固有誤差 ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
          工作誤差 ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
          電感測量范圍 4.5nH ~ 140mH
          電容直接測量范圍 1 ~ 200pF
          主電容調節范圍 18 ~ 220pF
          主電容調節準確度 120pF 以下 ± 1.2pF ; 120pF 以上 ± 1 %
          信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz
          頻率分段 ( 虛擬 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz
          頻率指示誤差
          3 × 10 -5 ± 1 個字
           
          http://www.yztuoteng.com/prod/1920.html


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